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簡(jiǎn)介高溫老化試驗(yàn)箱散熱措施

2024-08-12 15:38 林頻儀器
  高溫老化試驗(yàn)箱環(huán)境溫度受電路功率影響.老化板位置的變化.烘箱網(wǎng)速變化等因素的影響導(dǎo)致箱內(nèi)溫度場(chǎng)的變化。箱內(nèi)溫度場(chǎng)的劇烈變化會(huì)影響產(chǎn)品的正常老化試驗(yàn),形成過(guò)應(yīng)力,嚴(yán)重時(shí)會(huì)導(dǎo)致電路故障。對(duì)影響設(shè)備的溫度因素進(jìn)行了試驗(yàn)監(jiān)測(cè)和分析,找出了影響溫度的主要原因和規(guī)律,采取了更好的散熱措施,防止老化電路過(guò)溫故障。
簡(jiǎn)介高溫老化試驗(yàn)箱散熱措施
  1.高溫老化試驗(yàn)箱內(nèi)的溫場(chǎng)變化受老化電路功率和散熱能力(風(fēng)速)的影響。該設(shè)備不僅控制電路的功率,而且改變了電路的布局。下層盡可能填充電路,逐漸從下層降低電路功率,形成功率梯度,與試驗(yàn)箱風(fēng)速一致,達(dá)到散熱的目的。
 
  2.試驗(yàn)箱采用電熱高溫干燥試驗(yàn)箱,風(fēng)源來(lái)自底部。由于試驗(yàn)箱承載板和老化板,風(fēng)速由下而上逐漸降低。根據(jù)試驗(yàn)箱風(fēng)速的特點(diǎn),老化板的放置方向可與試驗(yàn)箱的風(fēng)向一致,增加通風(fēng)面積,降低風(fēng)速屏障,增強(qiáng)高溫老化試驗(yàn)箱的散熱功能。
 
  3.根據(jù)改進(jìn)措施結(jié)合功率器件DC/DC電源為測(cè)試對(duì)象,溫度設(shè)置為80℃,測(cè)試電路功率65W(1)逐漸增加到5200W(8)高溫老化試驗(yàn)箱電路功率520W比設(shè)定溫度高5.6℃,符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求(8)℃或8%)。

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